芯片作为工业的”粮食” ,一直是全球高科技产业的重要支柱。在科学界和产业界,大家一直在不断尝试利用各种二维材料,开发出兼具高性能和低功耗的新一代芯片。
二维(2D)层状半导体,由于具备出色的栅极场穿透的原子厚度,可作为未来晶体管的通道材料。根据客户要求,我们需要在开发新材料时,不断地对样品进行参数测定,使之达到理论设计值。测试参数包含介电常数、C-V曲线、I-V曲线、静态电容。
本次我们将通过TH2838A阻抗分析仪、TH1992B精密源/测量电源定制上位机软件作为部分实验设备用于参数测定。
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